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「AFMテストサンプル」 プレゼント
Jupiter XR は大型試料対応の原子間力顕微鏡(AFM/SPM)で、原子・分子レベルの「超高分解能」に加え、「高速スキャン」「広域スキャン」を兼ね備えた、基本性能に優れたAFMです。革新的かつ堅牢な最新設計に加え、独自のblue Drive 光熱励振タッピングにより、安定した再現性の高い測定が可能で、ナノラフネス 粗さ測定において、15時間 1000枚の連続測定を可能にします。
従来のステージ型AFMを凌駕する最新設計とテクノロジー
blue Driveタッピングと堅牢設計による安定した再現性の高い測定
超高分解能・高速スキャン・広域スキャンを単一のスキャナで達成(スキャナの交換不要)
原子・分子レベルの空間分解能
最速 数十Hzの高速スキャン
広いスキャンレンジ(100µm)
こだわりの光学顕微鏡設計と、操作性に優れたNewソフトウェア『Ergo』
・スキャンレート 10Hz
・512 x 512
①超高分解能観察
・Cypherに引けをとらない原子・分子分解能を大型試料対応AFMで実現
・超フラット基盤のラフネス測定に最適
②高速スキャン
・Cypher同様の高速スキャン。10μmスキャンでラインレート20Hz以上。
③広域スキャン
・スキャンエリア100umを確保(90μm保証)。
・モーターステージは200mmサンプル全域へのフルアクセスが可能
・こだわりのTop-View光学顕微鏡による鮮明な画像は、関心領域をかんたんに視認できます (回折限界: ≦1.5μm)
・光てこ光学系 (レーザー&検出器)を、1-Clickで自動調整
・カンチレバーを、1-Clickで自動キャリブレーション
・ウィザード形式を採用した新しい制御ソフト"Ergo(エルゴ)"を搭載
・MFP-3Dを踏襲したモジュール設計により、アクセサリの追加や将来のアップグレードが容易
・様々なイメージングモードに対応
・開放的な試料周りはアクセス性が良く、独自の実験系の構築が容易
・AR Mapsソフトウェア - あらゆるタイプのAFMデータを包括的に解析
・カンチレバーだけを直接励振させることで、驚くほどきれいなチューンカーブが簡単に得られます
加えて、長時間にわたり安定した微小振幅を維持できるため、データの安定性・再現性が飛躍的に向上し、
Tipの摩耗を大幅に低減します
・コンタクトモード
・タッピングモード(ACモード)
・AM-AFM (振幅変調)、FM-AFM (周波数変調)
・ピエゾ励振、blueDrive (光熱励振)
・引力モード、斥力モード
・バイモーダル Duarl ACモード
・Fast Force Mappingモード 【オプション】
■Force Curveベースの測定
・Force Curve
・Force Curve Mapping
・Fast Force Mapping【オプション】
■タッピングモードベースの測定
・Phaseモード(位相モード)
・バイモーダルDual ACモード
・ロスタンジェント
・AM-FM粘弾性マッピングモード
■コンタクトモードベースの測定
・コンタクト共振粘弾性マッピングモード
・水平力顕微鏡(LFM)
・コンダクティブAFM(C-AFM、通称; ORCA)【オプション】
・高速電流マッピング【オプション】
Fast Force Mappingベースの間欠接触式のC-AFM
・電気力顕微鏡(EFM)
・ケルビンフォース顕微鏡(KPFM)
・走査型キャパシタンス顕微鏡(SCM)【オプション】