オックスフォード・インストゥルメンツツの一部
拡張
アプリケーション

Fabrication and Characterisation of Light Emitting Devices

関連: フォトニクス

Atomic Force Microscopy (AFM) can probe the nanoscale topography and electrical and functional properties of thin films and thin film devices like LEDs. Please refer to the pages linked below for more information about AFM use in this area.

プロダクト群