高速フォースマッピングモード (FFM)

Celgard 3D atomic force microscope image

Jupiter XR showing a 200 mm wafer being placed on the sample chuck

Jupiter XR AFM対応の高速フォースマッピング（Force-distance curve mapping）モードは、高速（最大2500 Hz）でフォースカーブ（力-距離曲線）を測定し、イメージ内で全フォースカーブを取得します。リアルタイムおよびオフラインの両方で解析モデルを適用し、弾性率、凝着力、その他の特性を計算することができます。

最大2500 HzのZレートで動作するフォースマッピングモード
イメージ中の全フォースカーブをキャプチャし、カーブの損失や隠れたデータ操作は皆無
正確な測定のためディフレクションとZセンサーデータの両方をキャプチャ
弾性率、凝着力、その他の特性の計算に対応した解析モデルを、リアルタイムおよびオフラインで適用可能。これらのモデルはユーザーにより変更可能
10 kPa ～ 100 GPaのサンプルに適しています

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ポリマー（高分子）の物性測定層状高分子構造のイメージング・故障解析ポリマー添加剤の分析半導体・マイクロエレクトロニクス Semiconductor Defect Analysis

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