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ナノスケールでの機械特性は、多くのアプリケーションにおいて非常に重要です。原子間力顕微鏡（AFM, atomic force microscopy）は、これらの特性を計測できる限られたツール中の1つです。 アサイラム・リサーチAFM用のNanomechPro™ ツールキットを使用することで、細胞からセラミックまで、あらゆる機械特性をナノスケールで測定することが可能になります。このツールキットに含まれるテクニックにより、弾性・粘性、接着力、硬度など、広範囲にわたるナノメカニカル挙動を正確に評価することができます。NanomechProツールキット内の複数のテクニックは、異なるアプリケーションに対して高い柔軟性を提供し、得られた結果を比較することで、より深い知見を得ることができます。NanomechProツールキットには、Cypher™ ファミリー・MFP-3D™ ファミリーのいずれのAFMにも対応した機能が含まれており、多数の特性を高速で測定できる独自のモードと一緒に使用できます。
Cypher AFM用のレーザー干渉変位計測オプション（IDS, Interferometric Displacement Sensor）を使用すると、ナノメカニカル特性評価モードにおいて、より定量的かつ詳細な計測が可能です。従来の光てこによるたわみ検出法（OBD, optical beam deflection）では、カンチレバー形状が予測された形やモデル型からそれた場合、OBD信号が誤って解釈される可能性があります。 これに対して、IDSはカンチレバーの振幅・たわみの絶対値を提供するため、マルチ周波数テクニック、モード形のマッピング、チップ - サンプル接触機構、およびオンオフ共振接触テクニックの精度を向上させます。下の技術資料のタブをクリックしてIDSオプションのデータシートをダウンロードしていただけます。
AFMに関する技術的なお問い合わせ画像をクリックするとダウンロードできます。
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