オックスフォード・インストゥルメンツー事業部ページ
拡張
Collapse
オックスフォード・インストゥルメンツ
アプリケーション
プロダクト
NEW
イベント
お問い合わせ
IR情報
採用情報
新卒採用情報
NEW
イベント
jp
en
jp
en
IR情報
採用情報
AFMシステム
Jupiter AFM
Jupiter XR(大型試料対応ステージ型)
Cypher AFM Family
Cypher S
Cypher ES(環境制御対応)
Cypher ES(ポリマーエディション)
Cypher VRS1250(ビデオレート)
MFP-3D AFM Family
MFP-3D Origin(エントリー)
MFP-3D Origin+(スタンダード)
MFP-3D-BIO(倒立顕微鏡対応)
アクセサリ
JUPITER アクセサリ
高電圧オプション
AM-FM 粘弾性マッピングモード
高速フォースマッピングモード (FFM)
磁場印加モジュール
NanoRack サンプル引張ステージ
走査型キャパシタンス顕微鏡 (SCM)
PolyHeater(加熱ステージ)
CoolerHeater(冷却/加熱ステージ)
液中イメージング
コンダクティブ AFM
Cypher アクセサリ
blueDrive 光熱励振
ナノメカニクス 力学特性・熱特性
電気特性・電気化学測定
環境制御(温度・ガス・GB)
液中イメージング測定
MFP-3D アクセサリ
ナノメカニクス 力学特性・熱特性
電気特性・電気化学測定
環境制御(温度・ガス・GB)
液中イメージング測定
外場印加(引張・高電圧・磁場・光)
拡張オプション
AFMソフトウェア
Ergo AFM ソフトウェア
Relate:電子顕微鏡像/EDS/EBSD/AFMの画像用相関ソフトウェアパッケージ
アプリケーション
ポリマー
薄膜・コーティング
圧電体・強誘電体
グラフェン・2次元 (2D) 材料
生体分子・膜・集合体
細胞・組織
バイオマテリアル
食品科学
ソーラー・光起電発電・熱電発電
エネルギー貯蔵・バッテリー
半導体・マイクロエレクトロニクス
磁気・データストレージ
ナノメカニカル特性
ナノエレクトリカル特性
フォース測定
トライボロジー
AFM用カスタム計測システムの開発
ラーニング
ウェビナー
技術資料ライブラリー
ケーススタディ(英語)
イメージギャラリー(英語)
AFMとは?
AFMロードマップ
AFMプローブ
AFM/SPMプローブストア・
プローブ選択ガイド
プローブストアの使い方
プローブに関するお問合せ
「AFMテストサンプル」 プレゼント
プローブ即納キャンペーン
お問い合わせ
セールスサポート
セールスに関するお問い合わせ
機種選定や価格に関するお問い合わせ
アサイラム・リサーチ事業部について
アプリケーションサポート
AFMに関する技術的なお問い合わせ
フォーラムサポート
サービス・サポート
サービス契約
アップグレード
スペアパーツ
キャンペーン
「AFMテストサンプル」プレゼント
プローブ即納キャンペーン
NEW
イベント
eコマース
Jupiter XR 大型サンプル対応ステージ型 AFM/SPM 動画集
新製品
Jupiter XR
大型サンプル対応ステージ型 AFM/SPMの機能や性能を紹介した動画集です。
Jupiter XR カタログをダウンロード
氏名
*
会社・大学・研究所名
*
部署・学部・研究室名
*
Eメールアドレス
*
電話番号
*
ご用件をお選びください(複数選択可)
*
製品・アプリケーションについて詳細な説明を希望
見積を希望
製品デモを希望
今年度内に購入を検討
2~3年以内に購入を検討
予算申請を検討
情報収集
当社からの連絡を希望しない
操作方法について聞きたい(ユーザー様向け)
装置不具合への対応を希望(ユーザー様向け)
その他
AFMの使用状況
Oxford-Asylum 所有者/管理者
Oxford-Asylum ユーザー
他社AFM 所有者/管理者
他社AFMユーザー
未経験だがこれから使う予定
その他
お問合わせの内容
ご興味のある分野をお選びください(複数選択可)。
下記より選択してください。
Toggle Dropdown
下記より選択してください。
先進製造技術
自動車・航空宇宙
ケミカル・触媒
金属・合金・複合材料・セラミック
ポリマー(高分子)
発電・蓄電(バッテリー)
農業・食品
法科学・環境
地質・岩石学・鉱業
バイオイメージング・ライフサイエンス
製薬
量子技術
フォトニクス・光工学
半導体・マイクロエレクトロニクス・データストレージ
研究・基礎科学
OIニュースレターを希望します。
※当社のメールマガジンです。当社の新製品、ウェビナー、展示会などの最新情報をお届けしています。
このフォームを送信することにより、オックスフォード・インストゥルメンツが
個人情報の取扱い
に記載された方法で入力した個人データを処理することに同意します
Jupiter XR は高い再現性を誇るラフネス(粗さ)測定を実現 >
SpotOn により、レーザー調整が素早く簡単に行えます >
Jupiter XR の特長である、全域アクセス可能な 210 mm ステージ >
Jupiter XRは、再現性の高いラフネス(粗さ)測定を実現。ここでは、ディスクメディア基板のラフネスを15時間にわたり1000回測定しました。Rqラフネスは、全期間で1%以内の安定した再現性を示しています。この安定性は、アサイラム独自のblueDrive光熱励振を用いたタッピングモードにより可能となります。
SpotOn
™ により、レーザーと検出器が1-Click 操作で調整可能
Jupiter XR は、最大径200 mmの試料全域アクセスが可能
新しくタブを開く