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Asylum Research Jupiter XR atomic force microscope (AFM)

Jupiter XR 大型サンプル対応ステージ型 AFM/SPM 動画集

新製品 Jupiter XR 大型サンプル対応ステージ型 AFM/SPMの機能や性能を紹介した動画集です。

Jupiter XR カタログをダウンロード Jupiter XR は高い再現性を誇るラフネス(粗さ)測定を実現 > SpotOn により、レーザー調整が素早く簡単に行えます > Jupiter XR の特長である、全域アクセス可能な 210 mm ステージ >
Jupiter XRは、再現性の高いラフネス(粗さ)測定を実現。ここでは、ディスクメディア基板のラフネスを15時間にわたり1000回測定しました。Rqラフネスは、全期間で1%以内の安定した再現性を示しています。この安定性は、アサイラム独自のblueDrive光熱励振を用いたタッピングモードにより可能となります。

SpotOn™ により、レーザーと検出器が1-Click 操作で調整可能

Jupiter XR は、最大径200 mmの試料全域アクセスが可能