AR Maps ソフトウェア

AFMデータ用に設計された包括的な解析パッケージ AR Maps でワークフローを合理化

AR Mapsの特長：

測定データの補正、正規化、ノイズ除去のための豊富なツール
以下を含む表面および断面データの特性評価
- ISO 規格に基づく粗さ評価
- ステップ高さ / 測定距離
- ヒストグラム
強力なレシピを開発し、データプロセスおよび解析をカスタマイズ

高度な機能：

バッチ処理とデータ解析の自動化
データセットに関する統計レポートの作成
カンチレバー探針のデコンボリューションによるクリティカルディメンジョン（CD, Critical Dimension）およびトレンチ（溝）解析パッケージ
画像スティッチング
粒子解析

ErgoおよびIgorのいずれのファイルもサポート

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Andor, Asylum Research, Magnetic Resonance, NanoAnalysis, Plasma Technology, WITec | Raman, X-Ray Technology

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