ナノスケール絶縁膜経時破壊 (nanoTDDB)

nanoTDDB™ はCypher AFM/SPMで使用できるモードです。ナノスケールの精度で誘電体薄膜の破壊電圧を検出できるため、その特性評価が可能になります。導電性AFMプローブを流れる電流をモニタリングしながら、最大±150 V の一定または勾配変化させたバイアスを印加できます。

• AFM探針の優れた空間分解能により、従来のプローブステーションでは到底不可能であった、微小な長さスケール（〜20 nm）での、絶縁破壊の局所的測定が可能

• 高解像イメージから測定点を正確に選択したり、グリッド点をマッピングして分析することが可能

お問い合わせ