オックスフォード・インストゥルメンツツの一部
拡張
オックスフォード・インストゥルメンツ
アプリケーション
プロダクト群
NEW
イベント
お問い合わせ
投資家キャリアNEWイベントeコマース
投資家 キャリア
AFM システム
Jupiter AFM ファミリーJupiter XR
Cypher AFM ファミリーCypher SCypher ES（環境制御モデル）Cypher ES（ポリマーエディション）Cypher VRS（超高速モデル）
MFP-3D AFM ファミリーMFP-3D Origin（低価格AFM）MFP-3D Origin+（エントリーモデル）MFP-3D Infinity（MFP最上位モデル）MFP-3D-BIO
アクセサリ
bluedrive photothermal excitation option for Cypher atomic force microscopes
Cypher アクセサリblueDrive 光熱励振ナノメカニカル特性および熱特性の測定ナノエレクトリカル特性および電気化学特性の測定温度制御およびガス環境制御液中測定AFM プローブ / カンチレバー
MFP-3D アクセサリナノメカニカル特性および熱特性の測定ナノエレクトリカル特性および電気化学特性の測定温度制御およびガス環境制御液中測定サンプルへの外部印加実験ニーズに対応AFM プローブ / カンチレバー
プローブ
プローブストア
アプリケーション
ポリマー薄膜・コーティング圧電体・強誘電体グラフェン・2次元 (2D) 材料
生体分子・膜・集合体細胞・組織生体材料食品科学
ソーラー・光起電発電・熱電発電エネルギー貯蔵・バッテリー半導体・マイクロエレクトロニクス磁気・データストレージ
ナノメカニカル特性ナノエレクトリカル特性フォース測定トライボロジーAFM用カスタム計測システムの開発
ギャラリー
アプリケーション ギャラリー
バイオロジーポリマー圧電体・強誘電体ソーラー・光起電発電電気化学磁気・データストレージその他の材料
テクニック ギャラリー
Cypher 原子分解能Cypher blueDriveCypher 高速スキャニングCypher イメージ集ナノメカニクスナノエレクトリカル測定ナノリソグラフィ・ナノマニピュレーションフォースカーブ動画集熱測定走査型トンネル顕微鏡 (STM)
ウェビナー
お問い合わせ
セールスサポート
セールスに関するお問い合わせ機種選定や価格に関するお問い合わせアサイラム・リサーチ事業部に　ついて
プロダクト＆アプリケーション　　サポート
AFMに関する技術的なお問い合わせフォーラムサポート
NEW
イベント
eコマース
  1. AFM Home
  2. All Asylum Research AFMs and Accessories
  3. Cypher Accessories: Nanoelectrical Properties
  4. Scanning Tunneling Microscopy (STM)

Scanning Tunneling Microscopy (STM)

STM image of HOPG, 5 nm scan.

STM can be useful for ultra-high resolution imaging of conductive samples. Just like AFM imaging, STM benefits from the exceptional stability and low drift of the Cypher systems.

  • Useful for ultra-high resolution imaging of conductive samples


お問い合わせ

ご興味ございますか？

Electrochemical Strain Microscopy (ESM)
Electrochemistry Cell
High-Voltage Piezoresponse Force Microscopy (PFM)
Nanoscale Time Dependent Dielectric Breakdown (nanoTDDB)
Conductive AFM (ORCA)
Scanning Microwave Impedance Microscopy (sMIM)
Scanning Tunneling Microscopy (STM)
Cypher ES 環境制御 AFM/SPM
Cypher ES AFM ポリマーエディション
Cypher S AFM/SPM
Cypher VRS Video-Rate AFM/SPM

最新ニュース

新製品情報：『Jupiter XR』原子間力顕微鏡をリリース

アサイラム・リサーチは大型サンプルに対応した 200 mmステージ型原子間力顕微鏡(SPM/AFM)『Jupiter XR』を発表。単一スキャナで超高分解能，高速イメージング，広域スキャン可能

記事全文を読む >
Webinar on AFM Characterization of Photovoltaics Sept.13

Oxford Instruments Asylum Research, in conjunction with the Materials Research…

記事全文を読む >
AFM Accessory Enables Advanced Magnetics Research

The new Variable Field Module (VFM4) accessory for Asylum Research MFP-3D…

記事全文を読む >
Imaging Surfactant Micelle Dynamics with Video-Rate Atomic Force…

New breakthroughs in video-rate atomic force microscopy (AFM) enable imaging…

記事全文を読む >

© オックスフォード・インストゥルメンツ 2019

このウエブサイトは、ミラマー・コミュニケーション Ltd