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走査型マイクロ波インピーダンス顕微鏡 (sMIM)

Cypher AFM/SPMにsMIMを搭載することにより、金属、半導体、絶縁体においてナノスケールの誘電率や導電率のマッピングが可能です。

  • 横方向の分解能が向上(10倍)

  • 競合技術と比べて最大80倍速く、低電力で動作


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