オックスフォード・インストゥルメンツツの一部
拡張

Scanning Microwave Impedance Microscopy (sMIM)

sMIM enables nanoscale permittivity and conductivity mapping on metals, semiconductors, and insulators on Cypher AFMs.

  • Provides higher lateral resolution (10×)

  • Operates up to 80× faster and at lower power compared to competing technologies


お問い合わせ

ご興味ございますか?

その他アプリケーション