nanoTDDB(ナノスケール絶縁膜経時破壊)
最大 ±150 Vまでのナノスケール絶縁膜経時破壊実験が可能
Jupiter Discovery型原子力顕微鏡は、クラス最高の性能と使いやすさを組み合わせた独自のソリューションを提供します。
学術研究や産業分野を問わず、ユーザーは最小限のトレーニングと労力で高品質な成果が得られます。同時により高い性能が求められる現代のAFM測定では、より細かな構造の解明、精度、再現性、スループットの向上が求められています。
Jupiter Discoveryは、これらの要件を満たす唯一のAFMであり、ユーザーが求める超高速性能と直感的な操作性の両方を兼ね備えたシステムです。
多様な研究用途に対応する優れたカスタマイズ性
基本モード
Contact Mode
Fast Force Mapping Topography with Autopilot
Force curves
Frequency modulation
Lateral force mode (LFM)
Nanolithography and nanomanipulation
Phase imaging
Tapping mode (AC mode)
機械特性・力学物性(ナノメカニクス)モード
Dual AC (Bimodal)
Force mapping mode (force volume)
Force modulation
Loss tangent imaging
ナノ電気的特性および機能特性モード
Electric force microscopy (EFM)
Kelvin probe force microscopy (KPFM)
Magnetic force microscopy (MFM)
Dual AC Resonance Tracking (DART) piezoresponse force microscopy (PFM)
Switching spectroscopy PFM
Vector PFM.
機械特性・力学物性(ナノメカニクス)モード
AM-FM Viscoelastic Mapping Mode (requires blueDrive)
Contact Resonance Viscoelastic Mapping Mode (requires blueDrive)
Fast Force Modulus Mapping (FFM-Modulus)
Torsional Force Microscopy (TFM) (blueDrive suggested)
ナノ電気的特性および機能特性モード
Conductive AFM (CAFM) with ORCA
Current mapping with Fast Force Mapping
Ergo KPFM (single pass with heterodyne, sideband, and amplitude modulation)
Nanoscale Time-Dependent Dielectric Breakdown (nanoTDDB)
Scanning Capacitance Microscopy (SCM).