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Atomic Force Microscopy (AFM) is widely used as a tool in semiconductor and microelectronics during the development, production, and failure analysis stages. Please refer to the pages linked below for more information.
sMIM(Scanning Microwave Impedance Microscopy, 走査型マイクロ波インピーダンス顕微鏡)により、金属、半導体、絶縁体におけるナノスケールの誘電率や導電率のマッピングが可能となります(MFP-3D Originを除く全MFP-3D モデルに対応)。
アサイラム・リサーチのCypher S は Cypher AFM ファミリーのベースモデルです。 Cypher S は製品 AFM の中で、業界初の高速スキャンニングモデルであり、Cypher AFM ファミリーは、全測定モードおよびアクセサリに対応した、唯一のフル機能搭載高速スキャニングAFMでありつづけます。また、Cypher AFM ファミリーは、他の…
MFP-3D Origin™は、既存の低価格帯 AFM と競争力のある価格設定ながら、アサイラム・リサーチならではの高性能・高品質を特長としたモデルです。MFP-3D Origin は、性能と価格のバランスをとりながら、高分解能イメージングの提供、大きなサンプルのハンドリング、多彩なイメージングモード、および多様なアクセサリをサポートしています。 AFM を使い始めるにあたっての最高の入門モデルです!
アサイラム・リサーチの MFP-3D-BIO は、バイオサイエンス研究用に AFM と光学顕微鏡を統合するという製品の基準を打ち立てました。この製品は、AFM のイメージング分解能やフォース測定性能、アプリケーションの多様性を妥協することなく、あらゆる種類の光学技術とシームレスに統合させた唯一のバイオ AFM です。 アサイラム・リサーチの専門家による比類のないサポート体制と相まって、この製品は、お客様の研究を推進するうえで最良かつ最も生産的な…
レーザー干渉変位計測(IDS; Interferometric Displacement Sensor)はCypher AFM/SPM のオプションであり、従来の光てこによるたわみ検出法(OBD, optical beam deflection)で使用されるカンチレバー角度の代わりに、カンチレバーのたわみ (deflection) を直接測定します。IDSは静電結合によるアーティファクトを排除し、特に圧電応答力顕微鏡(PFM)や…
MFP-3D Origin+ は既存の低価格帯AFMと競争力のある価格で、高性能かつ幅広い機能を提供します。MFP-3D Origin+ は、あらゆる研究分野に対応できる極めて汎用性の高い、研究用高性能 AFM です。MFP-3D Origin と同じコア性能となりますが、革新的な MFP-3D 用アクセサリのすべてをサポートしていることが大きな特長です。同じような低価格帯の他社製AFMは、多くの場合、性能面で劣り、かつ機能一式が非常に限られているのに対し、MFP-3D…
Cypher ES ポリマーエディションは、特にポリマーサイエンスの研究分野で優れた結果を生み出すよう、Cypher ES AFM の構成を最適化したモデルです。本モデルは Cypher ES の持つ並外れた性能と汎用性を共有していますが、その他に blueDrive 光熱励振、NanomechPro ツールキットよりナノメカニカル特性評価用の強力なツール 3…
ORCA™ は Cypher AFM/SPM で利用でき、コンダクティブAFMイメージングやI-V測定が可能です。標準モジュールでは約1 pA〜20 nAの電流を測定できます。異なる電流測定範囲を持つモデルやデュアルゲインモデルも用意しております。
Cypher VRS1250は、初代Cypher VRSの2倍の速さである最大1250ライン/秒でスキャンを行います。これにより、最大45フレーム/秒のフレームレートでより高い時間分解能を実現することや、より低いフレームレートでさらに多くの画像ピクセルを収集して空間分解能を向上させることが可能です。超安定イメージングや、かん流機能付きの使いやすい完全密閉サンプルセル、充実したモードやアクセサリーが利用可能なCypher…
アサイラム・リサーチの Cypher ES は、抜群の性能を誇る Cypher S のプラットフォームにフル装備の環境制御機能を拡張追加したモデルです。Cypher S と同じ高分解能、スピードそして安定性を持ちながら、0 ∼ 250°Cの温度範囲において制御された、ガス・液体雰囲気環境や厳しい化学的環境の中でも、容易に操作が可能です。Cypher ES は、最も過酷な実験要件を満たすための究極の…
Jupiter XR は大型試料対応の原子間力顕微鏡(AFM/SPM)で、原子・分子レベルの「超高分解能」に加え、「高速スキャン」「広域スキャン」を兼ね備えた、基本性能に優れたAFMです。革新的かつ堅牢な最新設計に加え、独自のblue Drive 光熱励振タッピングにより、安定した再現性の高い測定が可能で、ナノラフネス 粗さ測定において、15時間 1000枚の連続測定を可能にします。
ORCA™コンダクティブAFMプローブホルダにより、すべてのMFP-3D AFM/SPM で、コンダクティブAFMイメージングおよびI-V測定をご利用いただけます。標準モジュールでは約1 pA〜20 nAの電流を測定できます。異なる電流測定範囲を持つモデルやデュアルゲインモデルも用意しております。