Jupiter XR AFM/SPM 原子間力顕微鏡のアクセサリ

環境制御 & 高電圧

環境制御アクセサリを使用しながら、最大± 150 Vまでの高電圧実験が可能

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高電圧アクセサリ

最大 ±150 Vの高電圧オペレーション

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nanoTDDB（ナノスケール絶縁膜経時破壊）

最大 ±150 Vまでのナノスケール絶縁膜経時破壊実験が可能

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走査型キャパシタンス顕微鏡 (SCM)

高分解能イメージングと高速スキャンによる最小 1 aF の静電容量測定

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AM-FM粘弾性マッピングモード

タッピングモードをベースとしたナノメカニカルマッピングモード

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高速フォースマッピングモード (FFM)

フォースカーブをベースとしたナノメカニカルマッピングモード

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CoolerHeater

CoolerHeaterアクセサリは、 0˚C以下の温度制御が可能

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NanoRack サンプル引張ステージ

引張・圧縮下の実験に対応したサンプルステージ

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磁場印加モジュール

サンプルの面内・面直に可変磁場を印加可能

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PolyHeater

PolyHeaterアクセサリは、サンプルを300°Cまで加熱可能

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コンダクティブ AFM

導電性AFMイメージングが可能となる、新規の ORCA カンチレバーホルダ

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液中イメージング

液滴イメージングが可能となる、新規の液中測定用カンチレバーホルダ

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