Asylum Research ウェビナー：2次元材料のキャラクタリゼーションのためのAFMツール

概要

EPFL Institute of Electrical EngineeringのDr. Andras Kisおよび、Asylum Researchのナノエレクトリカル特性評価のスペシャリストであるKeith Jones氏が講師を務めます。このウェビナーでは、2次元材料研究におけるAFMの重要な役割について解説し、デバイス製造やエネルギー貯蔵、オプトエレクトロニクスに使用されるさまざまな2次元材料のキャラクタリゼーションを成功させるためのツールや手法を紹介します。物理特性をマッピングするためのAFMモードについて学習し、局所的な電気的、機械的、機能的応答を評価する方法を確認します。また、AFMを使用して2次元材料のシングルレイヤまたはマルチレイヤの厚みを正確に決定する手法を取り上げます。これは、AFMが2次元材料の厚みを正確に測定する用途には使用できないという思い込みへの挑戦でもあります。

下記のテーマについての結果を含みます：

• 二硫化モリブデン (MoS₂) とグラフェン
• 力学物性（機械的特性）の測定
• 動作トランジスタのケルビンプローブイメージング (KPFM) 
• 電気的特性評価
• 次の手法について詳細に解説：
  • KPFM
  • 圧電応答顕微鏡 (PFM)
  • コンダクティブ AFM
  • 走査型マイクロはインピーダンス顕微鏡 (sMIM)

講師紹介：

Andras Kis氏は、2次元材料の開発に重点を置いた、Ecole Polytechnique Federale de Lausanne (EPFL), School of Engineering (STI), Institute of Electrical Engineering (IEL) の准教授です。彼のグループは、2次元半導体を利用した最初のトランジスタを発表しました。Kis氏は63の査読付き論文、科学系の学会での50以上の招待講演、多数の2次元材料およびグラフェンの会議の組織委員会への参加を含め、16年以上のAFM経験があります。また、Nature Partner Journal, “2D Materials and Applications”の編集長でもあります。Kis教授はEPFLで博士号を取得。Univ. of California Berkeley, Zettl Labにてポスドク。

Keith Jones氏は、Oxford Instruments Asylum Researchのアプリケーションサイエンティストです（12年間）。ナノエレクトリカル特性評価を専門とした18年以上のSPMの経験があり、ドーパントプロファイリングや走査型マイクロ波インピーダンス顕微鏡法などの電気的なAFM技術の開発と応用に貢献しました。また、走査型インピーダンス顕微鏡の特許の共同発明者でもあり、34の共著の出版論文があります。Keith氏はVirginia Commonwealth Universityで物理学を専攻し、修士号を取得。