Vero S: 干渉型原子間力顕微鏡

2024 R&D 100, Frost & Sullivan Award Winner: Asylum Research's Vero Interferometric AFM

Vero Sは、Asylumの次世代Vero AFMの標準環境構成であり、直交位相差干渉法（QPDI）を用いて真の探針変位を精密かつ正確に測定します。

直交位相差干渉法（QPDI）:

真の探針変位を測定
測定感度を向上
垂直方向と面内方向の力間のクロストークを回避
光の波長で精密に校正

Vero Sの特徴：

他のAFMよりも高い分解能を日常的に達成
高速走査により結果が数秒で得られる（従来の数分から大幅短縮）
blueDrive photothermal excitationによる簡便で安定したタッピングモードイメージング（オプション）

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Vero Sは、Cypher Sの超高安定性と高性能を基盤としつつ、次世代Vero AFMファミリーに特有の四相位差干渉法（QPDI）の利点を追加しています。

他のAFM顕微鏡よりも常に高い解像度を実現

比類のない機械的安定性—ノイズフロアは他社のAFMの半分
極めて低いドリフト—高解像度と直線的な格子線を実現
低ノイズ電子回路—電子ノイズ源によるアーティファクトなし

高速走査により結果が数秒で得られる（従来の分単位から大幅短縮）

一般的なAFMよりも10～100倍高速な走査
最速・最小プローブに対応
地形測定を超えた高速走査—ナノメカニクス、CAFM、PFMにも対応

操作のあらゆるステップが簡素化され、驚異的な生産性を実現

ModeMaster™は選択したモードに合わせてSoftwareを自動設定
SpotOn™により、完全電動式レーザーと検出器のアライメントがワンクリックで完了
GetReal™がカンチレバースプリング定数と感度を自動校正
GetStarted™がタッピングモードイメージングの最適パラメータを自動設定
blueDrive™により、タッピングモードがより簡便に、より安定し、より定量的に

実験室での設置面積は小さいが、機能面での成長可能性は大きい

粘弾性特性（貯蔵弾性率／弾性率および損失弾性率）測定のためのナノメカニカル特性評価モード一式を提供
比類のないナノ電気的・電気機械的特性評価モードの範囲
環境制御アクセサリ用Vero ES、ビデオレートイメージング用Vero VRS1250へアップグレード可能
多数の標準動作モードに加え、さらに豊富なオプションモード

お客様の期待を超えるサポート体制

標準1年間の包括保証付き
生涯無料の技術サポートと基本アプリケーションサポート
延長保証と高度なトレーニングを提供する手頃な価格のサポート契約

真の先端変位を測定

QPDIはカンチレバー角度ではなく真の先端変位を直接測定するため、多くのAFM測定の定量化精度が向上します。

測定感度を向上

QPDIは多くのカンチレバーにおいて検出ノイズを最大10倍以上低減し、測定感度を向上させます。

垂直力と面内力間のクロストークを回避

QPDIのみが純粋な垂直方向の先端変位を測定するため、OBDの垂直方向と横方向のたわみ信号間の大規模なクロストークを回避します。

光の波長による精密な校正

干渉計検出は、OBD校正に伴う仮定や不確実性を回避します。

含まれる動作モード

接触モード
DART PFM
デュアルAC（バイモーダル）
デュアルAC共振追跡（DART）
電気力顕微鏡法（EFM）
力曲線
力マッピングモード（力ボリューム）
力変調
周波数変調
Kelvin probe force microscopy (KPFM)
横方向力モード（LFM）
損失正接イメージング
磁気力顕微鏡法（MFM）
ナノリソグラフィーおよびナノマニピュレーション
位相イメージング
ピエゾ応答力顕微鏡法（PFM）
スイッチング分光法 PFM
タッピングモード（ACモード）
デジタルQ制御付きTAPモード
ベクトルPFM

オプション動作モード

AM-FM Viscoelastic Mapping Mode*
接触共鳴粘弾性マッピングモード*
高速力マッピングモード（FFM）
導電性AFM（CAFM）とORCA
FFMを用いた電流マッピング
電気化学歪み顕微鏡法（ESM）
ナノスケール時間依存誘電破壊（nanoTDDB）
走査型容量顕微鏡法（SCM）
走査型マイクロ波インピーダンス顕微鏡法（sMIM）
走査型トンネル顕微鏡法（STM）

(*これらのモードは、Vero SにblueDriveが装備されている場合、またはオプションのピエゾ駆動プローブまたはサンプルアクチュエータでサポート可能な場合に利用可能です)