原子間力顕微鏡を使用した3層グラフェンのABA層とABC層の識別

グラフェン系やその他の2次元材料の研究には、十分な空間分解能で積層秩序を識別するツールが必要です。2次元ラマン分光法やIR-SNOMはいずれも制限がありますが、オックスフォード・インストゥルメンツ社アサイラム・リサーチの原子間力顕微鏡では、標準モードのSKPMとSCMにより、ABAグラフェンとABCグラフェンの構成の違いを容易に識別することが可能です。

このアプリケーションノートでは、以下について解説しています：

• 走査型ケルビンプローブ顕微鏡 (SKPM) で表面電位を測定し、ABAグラフェンとABCグラフェンを識別する方法
• アサイラム・リサーチの新しい走査型キャパシタンス顕微鏡 (SCM) モードは、より高い感度を備えており、ABAグラフェンとABCグラフェンを区別可能であること
• ABAグラフェンとABCグラフェンを識別する際の、2次元ラマン分光法とIR-SNOMの限界について