NanoRack サンプル引張ステージ

NanoRack™（ナノラック）を用いることで、サンプルから新しい情報を引き出せます。この独自のサンプルステージにより、サンプル中央付近の領域に対して、対称的に引張または圧縮荷重を印加しながら、同時にAFM/SPM観察が可能です。このステージの特長は、高歪みを実現する大レンジと、最大80 Nの力による高応力測定に対応した組込み荷重セルが備わっていることです。(Jupiter XR  および MFP-3D AFM に対応。ただし MFP-3D Origin を除く。)

• 高歪み、高引張距離の手動引張ステージにより、2軸の引張応力制御が可能

• 応力と歪みの両データを返送

• 引張または圧縮下で使用可能

• さまざまな荷重下でサンプルのイメージ領域を制御可能

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